유니테스트, 일본 R&D센터 철수

국내로 R&D 기능 일원화, 차세대 D램 검사장비 주력키로

유니테스트가 일본 연구개발(R&D)센터를 철수, R&D 기능을 국내로 일원화한다.

유니테스트 (대표 김종현)는 반도체 검사장비 R&D를 위한 일본 현지법인인 유니테스트재팬을 계열사에서 제외했다고 2일 밝혔다.

회사 측은 R&D센터 기능을 수행하는 일본 현지법인을 철수함에 따라 낸드플래시 메모리 검사장비 등 그동안 국내와 일본 연구진이 공동으로 추진했던 R&D 건을 국내로 일원화할 예정이라고 설명했다.

유니테스트는 지난해 1월 일본에 R&D센터를 설립, 국내와 현지 연구진이 공동으로 낸드플래시 메모리 후(後)공정 검사장비(콤포넌트 메인테스터)와 함께, 반도체 전(前)공정 검사장비(웨이퍼 메인테스터) 등을 개발했다. 하지만 비용절감과 효율성 등 여러 가지 사안을 고려, 철수키로 결정했다고 회사 측은 밝혔다.

이에 따라 유니테스트는 일본 R&D센터와 공동으로 추진했던 반도체 전공정 검사장비 개발은 잠정적으로 중단키로 했다. 대신 낸드플래시 후공정 검사장비는 국내에서 그대로 진행할 계획이라고 회사 측은 설명했다.

이 회사 관계자는 “낸드플래시 후공정 검사장비와 함께, 기존 주력인 D램 후공정 검사장비 개발 등에 역량을 집중할 계획”이라고 말했다.