유니테스트, 차세대 메모리모듈 검사장비 개발

DDR3 전용... 연내 수주 가능할 것으로 전망

반도체 검사장비업체인 유니테스트 는 차세대 D램인 DDR3용 메모리반도체 모듈 검사장비인 'UNI4200'을 개발했다고 4일 밝혔다.

유니테스트 측은 이 장비로 기존 DDR1과 DDR2와 함께 올해 말부터 양산될 예정인 DDR3 모듈까지 검사할 수 있으며 최대 1.8Gbps까지 검사속도를 낼 수 있다고 설명했다. 이번 장비 개발은 올해 6월 DDR3용 메모리반도체 단품 검사장비인 'UNI5200' 개발에 이은 것이다.

유니테스트 측은 이 장비에 대한 양산 검증을 마친 후 이르면 연내 장비 수주가 가능할 것이라고 밝혔다.

김종현 유니테스트 사장은 "이번 장비를 비롯해 올해 개발한 차세대 메모리 검사장비는 기존 장비대비 빠른 검사속도로 반도체 제조사들에게 원가경쟁력 강화에 일익을 담당할 수 있을 것"이라고 말했다.

한편 유니테스트는 국내 최초로 메모리 주검사장비를 국산화했으며, 하이닉스와의 공동개발 등 긴밀한 협력을 이어가고 있다.