논문은 최근 인텔에서 22나노미터(nm) 반도체에 적용 예정인 트라이 게이트 CMOS의 소자 신뢰도를 분석한 것이며 결과는 IEEE Electron Device Letters 9월호와 Microelectronics Reliability 9월호에 각각 1편씩 게재됐다.
트라이 게이트 CMOS는 기존의 벌크 CMOS에 비해 작은 트랜지스터의
인천대 관계자는 “학부생이 한국연구재단의 지원으로 지도교수와 같이 연구에 참여해 SCI 논문지에 실린 것은 대학에서 흔하지 않는 일”이라고 말했다.
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