유니테스트, 플래시메모리 검사장비 개발

300Mbps 속도 구현...D램 검사장비 플래시메모리 분야로 확대

반도체 검사장비 업체인 유니테스트는 플래시메모리 주검사장비(메인테스터)인 'UNI530'을 개발했다고 22일 밝혔다.

유니테스트 측은 이 장비가 낸드 및 노어 플래시메모리를 300Mbps급 속도로 검사할 수 있는 장비로 D램에 이어 플래시메모리로 사업영역을 확대했다고 설명했다.

이 장비는 256개 플래시메모리 칩을 동시에 검사할 수 있으며 플래시메모리 이외에 D램과 멀티칩패키지(MCP), 슈도S램 등 다른 메모리반도체 역시 검사가 가능하다.

유니테스트 관계자는 "D램 주검사장비에 이어 플래시메모리 장비 분야에 진출하는 한편, 최근 검사공정 소모성 부품인 프로브카드 사업을 추진하는 등 반도체 검사공정에 사용되는 장비 부품을 아우르기 위한 작업을 진행 중"이라고 말했다.